IKEIDARIKA池田理化原子力顯微鏡FX40
供應(yīng)數(shù)量: 345
發(fā)布日期: 2025/4/4
有效日期: 2025/10/4
原 產(chǎn) 地:
已獲點(diǎn)擊: 345
產(chǎn)品介紹
IKEIDARIKA池田理化原子力顯微鏡FX40
IKEIDARIKA池田理化原子力顯微鏡FX40
FX40,NX10,AFM100,AFM100 Plus
自動(dòng)原子力顯微鏡FX40可自動(dòng)執(zhí)行傳統(tǒng)手動(dòng)執(zhí)行的探針交換、光束對準(zhǔn)、樣品位置調(diào)整等。作為用于研究的緊湊型原子力顯微鏡,它可以輕松獲取高精度數(shù)據(jù),同時(shí)保持過去的基本設(shè)計(jì)元素。
特征:自動(dòng)完成掃描開始前的所有工作；有史以來第一臺(tái)用于研究的雙攝像頭原子力顯微鏡；支持多種測量模式和選項(xiàng)；樣品:最多 4 個(gè)。
研究型原子力顯微鏡NX10配備獨(dú)立的 XY/Z 軸掃描儀,可以獲得精確的表面形狀,而不會(huì)出現(xiàn)水平失真。True non-contact mode,非接觸,不損傷樣品表面,實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性,無需消耗吸頭。
特征:
納米級表面測量低噪聲 Z 檢測器的精確形貌圖像
True Non-Contact Mode測量,非接觸意味著沒有樣品損壞和最長的壽命
易于使用的用戶界面,SmartScan提供一鍵式芯片更換和簡單操作
緊湊型探針顯微鏡AFM100 系列AFM100/100 Plus特征:
Autopilot 功能可實(shí)現(xiàn)"一鍵式"測量到分析
高級模式(SIS模式)和測量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能(Real Tune II)提高數(shù)據(jù)可靠性
與 S?Mic(AFM-SEM 相關(guān)顯微鏡)兼容,可進(jìn)行多方面分析
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