HED型Wafer/ESD/TCP試驗機阪和電子工業(yè) 本裝置能夠測量以往TLP無法覆蓋的高電壓、大電流特性，在獲取、分析高耐壓元件的動作參數(shù)上發(fā)揮作用。
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模擬靜電CDM試驗機HANWA阪和電子工業(yè) 是與日本、海外的規(guī)格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格對應）通過更換放電電路的單元來支持國內外的規(guī)格測試。可以測量設備各端子容量。測量數(shù)據(jù)可以作為文本文件保存。
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高性能靜電破壞試驗裝置HANWA阪和電子工業(yè) 全自動靜電破壞裝置的高功能版登場 可以進行符合標準的測試（JEDEC、ESDA、AEC及JE的。短路使電感和電容對數(shù)據(jù)的影響小化。 此外，通過使用單一電路，可以保證被測試的各調試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
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