SHIBASOKU芝測(cè)TRT-1000過渡熱測(cè)試系統(tǒng) TRT - 1000，MOS - fet，晶體管等過渡熱抵抗（θJC）PN junction的順序電壓溫度變化成正比特性利用ΔVF測(cè)定，規(guī)定值相比，判定分類的檢測(cè)
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SHIBASOKU芝測(cè)ILT-1000L負(fù)荷測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU ILT - 1000，MOS - fet的L負(fù)荷的斷開時(shí)的波形進(jìn)行觀測(cè)，設(shè)定的VGATE，IH，白細(xì)胞介素組成的Vsus區(qū)域的保證GO / NO判定檢測(cè)。
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SHIBASOKU芝測(cè)SETS-400 DCテストシステム系統(tǒng)測(cè)試儀 接力動(dòng)作3 mS高速動(dòng)作，實(shí)現(xiàn)測(cè)試時(shí)間縮短 zui大的4臺(tái)多測(cè)試可以在1臺(tái)PC控制可能 生產(chǎn)記錄備份功能搭載
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SHIBASOKU芝測(cè)離散測(cè)試系統(tǒng)SETS-200 DC生產(chǎn)記錄備份功能搭載 接力動(dòng)作一mS高速動(dòng)作，實(shí)現(xiàn)測(cè)試時(shí)間縮短 zui大的4臺(tái)多測(cè)試可以在1臺(tái)PC控制可能
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SHIBASOKU芝測(cè)SCV66MX測(cè)試儀車載傳感器車載用調(diào)節(jié)器 1臺(tái)的系統(tǒng)可以zui大的4個(gè)舞臺(tái)的非同步測(cè)量可能。本體部分非常緊湊，連接機(jī)器的zui近連接。在主機(jī)內(nèi)部設(shè)置應(yīng)用程序區(qū)域，降低了連接本體連接的電纜。
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SHIBASOKU芝測(cè)WL25MV多用測(cè)試系統(tǒng)高精度測(cè)試系統(tǒng) 8萬臺(tái)（AC / DC / DC）） 數(shù)據(jù)集中管理、控制（多產(chǎn)品Window） 穩(wěn)定生產(chǎn)環(huán)境提供 過電流保護(hù)功能，動(dòng)態(tài)特性試驗(yàn)中的設(shè)備破壞
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多測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU芝測(cè)WL15VWI高耐壓泄漏測(cè)試 民用設(shè)備，音響，運(yùn)算放大器DC - DC， 電池管理IC等 SCV系列，多樣的顧客的需求的構(gòu)成，提供高性能緊湊的模擬IC測(cè)試系統(tǒng)。 作工
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SCV66汽車搭載測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU芝測(cè) 作工 同時(shí)測(cè)量16個(gè) 模擬機(jī): 32通道（64 V / 320毫安） 時(shí)間測(cè)量功能
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模擬IC測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU芝測(cè)SCV8測(cè)試系統(tǒng) 民用設(shè)備，音響，運(yùn)算放大器DC - DC， 電池管理IC等 SCV系列，多樣的顧客的需求的構(gòu)成，提供高性能緊湊的模擬IC測(cè)試系統(tǒng)。 作工
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WL25V模擬IC測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU芝測(cè)汽車搭載測(cè)試系統(tǒng) WL25V國(guó)內(nèi)*品牌的WL 25系列范式轉(zhuǎn)變引起了。WL 25 V的模擬銷片架構(gòu)更極為質(zhì)樸的系統(tǒng)構(gòu)成成為可能了。廣泛涵蓋的模擬IC的結(jié)構(gòu)，是更加高精度，快速同時(shí)同時(shí)測(cè)量功能也充實(shí)，提供出色的成本。
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半導(dǎo)體汽車測(cè)試系統(tǒng)WL25MXS芝測(cè)SHIBASOKU 式樣 平行測(cè)量 模擬引腳64 V /一1.28 數(shù)位引腳六十四 搭載模塊 高壓V / I 2000 V / 20毫安 大電流V / I / 10 A，30 A / 30 A / 30 A 時(shí)間，DSP（Audio /視頻） 面向車載設(shè)備、電源IC、電池管理IC， 各種驅(qū)動(dòng)IC等
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動(dòng)力混合試驗(yàn)系統(tǒng)SHIBASOKU芝測(cè)測(cè)量?jī)x器WL25MXL 民生·車載三相電動(dòng)機(jī)博士（10～50 A）的AC試驗(yàn)機(jī)（LSW·SC考試）測(cè)試系統(tǒng)。高速動(dòng)作可能的各種保護(hù)電路，并搭載Device和內(nèi)部電路更是接觸器和測(cè)定物保護(hù)。作為AC機(jī)的事的特性的優(yōu)化也可能。。
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