YAMASHITA山下電裝高倍率表面缺陷檢測(cè)設(shè)備

YAMASHITA山下電裝高倍率表面缺陷檢測(cè)設(shè)備

YIS 系列的高倍率檢測(cè)設(shè)備可在螢?zāi)簧铣尸F(xiàn)一個(gè)10mm的視場(chǎng)。
特別廣泛應(yīng)用于磊晶處理后的滑線檢查。同時(shí)也適用于硬碟或光學(xué)拋光元件。
檢測(cè)靈敏度約相當(dāng)于50倍的微分干涉像差顯微鏡。

即時(shí)顯示所有表面狀態(tài)。

光學(xué)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)等級(jí)

光學(xué)系統(tǒng)無(wú)須維護(hù)。

根據(jù)檢測(cè)內(nèi)容，可修正檢測(cè)靈敏度。

檢測(cè)尺寸：從φ100mm至φ300mm

檢測(cè)內(nèi)容：平坦度、凹洞、凸起、刮痕、橘皮等

檢測(cè)倍率：1x / 3x 模式可切換（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備）

檢測(cè)靈敏度：檢測(cè)靈敏度可連續(xù)調(diào)整

使用光源：550nm　（固定照度之穩(wěn)定光源）

鏡頭：高解析度CCD鏡頭

平臺(tái)：手動(dòng)平臺(tái)（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備）

用途：

鏡面晶圓的表面檢測(cè)

滑線檢測(cè)

玻璃基板檢測(cè)

其他鏡面基板檢測(cè)

選配:

電動(dòng)馬達(dá)檢測(cè)平移臺(tái)

自動(dòng)判定缺陷影像處理裝置

影像列印機(jī)

搬運(yùn)裝置

光催化研究：光催化太陽(yáng)光模擬器可以用于研究光催化劑的性能，例如其在特定光照條件下的反應(yīng)速度和效率。這些模擬器可以生成類似太陽(yáng)光的寬譜光源，從而使研究人員能夠在實(shí)驗(yàn)室條件下模擬真實(shí)世界的光催化反應(yīng)2。

光催化材料測(cè)試：光催化太陽(yáng)光模擬器也可用于評(píng)估新型光催化材料的性能。研究人員可以使用這些設(shè)備來(lái)測(cè)試材料在不同光照強(qiáng)度和光譜條件下的反應(yīng)性能2。

環(huán)境模擬：光催化太陽(yáng)光模擬器可以模擬不同時(shí)間的日光條件，包括日出、正午和日落。這使得研究人員可以在控制的環(huán)境中研究光催化過(guò)程在不同時(shí)段的行為2。

產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證：光催化太陽(yáng)光模擬器在開(kāi)發(fā)新的光催化產(chǎn)品和技術(shù)時(shí)也很有用。研究人員可以使用模擬器來(lái)優(yōu)化設(shè)計(jì)，然后測(cè)試和驗(yàn)證這些新產(chǎn)品在模擬太陽(yáng)光下的性能2。

測(cè)試太陽(yáng)能電池的評(píng)價(jià)指標(biāo)：太陽(yáng)光模擬器是測(cè)試太陽(yáng)能電池的評(píng)價(jià)指標(biāo)短路電流ISC、開(kāi)路電壓VOC、填充因子FF、光電轉(zhuǎn)化效率η的儀器1。

綜上所述，太陽(yáng)光模擬測(cè)試儀在科學(xué)研究、材料測(cè)試、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。